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美國Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測,適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。光譜儀耗材透明薄膜-106
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X射線熒光光譜儀薄膜TF-115
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。薄膜、樣品膜、光譜儀膜TF-115
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。12.7μ(0.50mil)樣品膜TF-412-345
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。美國premier樣品膜TF-412-345
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。4.0μm美國*樣品薄膜TF-240
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